Testeur numérique multifonctionnel à quatre sondes ST2258C

Aperçu

2.1 Fonctions de base et normes de base :

Le testeur numérique multifonctionnel à quatre sondes ST2258C est un instrument de mesure complet polyvalent et intelligent qui utilise le principe de mesure à quatre sondes pour tester la résistivité/résistance de bloc des matériaux. Cet instrument est conçu conformément à la norme GB/T 1551-2009 « Méthode de détermination de la résistivité des monocristaux de silicium », GB/T 1551-1995 « Méthode à deux sondes à courant continu pour déterminer la résistivité des monocristaux de silicium et de germanium », GB/T 1552-1995 « Méthode à quatre sondes à courant continu pour déterminer la résistivité des monocristaux de silicium et de germanium », etc. et fait également référence à la norme américaine ASTM.

2.2 Composition de l'ensemble d'instruments : Il se compose de l'unité principale à quatre sondes ST2258C, de sondes à quatre sondes en option, d'un banc d'essai à quatre sondes en option, etc.

2.3 Avantages et caractéristiques :

Ce testeur est spécialement équipé d'une fonction de classification automatique des résultats des tests, avec une classification maximale de 10 catégories.

2 : Interface de communication USB personnalisable, facilitant son extension en module de test dans un système de test intégré.

La plage de mesure ultra-large de la plage 3:8 est à la pointe du secteur. Les pairs proposent généralement cinq à six notes.

4 : L'instrument est miniaturisé et intègre des fonctions manuelles et automatiques.

5 : L’instrument est facile à utiliser et a des performances stables. Tous les réglages de paramètres et conversions de fonctions sont saisis via un clavier numérique, ce qui est simple et élimine l'instabilité des positionneurs analogiques.

2.4 Sélection de la sonde : selon les caractéristiques des différents matériaux, plusieurs types de sondes sont disponibles pour la sélection. Pour plus de détails, veuillez vous référer au « Tableau de référence de sélection des caractéristiques des spécifications du modèle de sonde à quatre sondes ».

Il est équipé de sondes en carbure de tungstène très résistantes à l'usure, telles que le type ST2253-F01, pour tester la résistivité/résistance carrée des matériaux durs comme le silicium et d'autres semi-conducteurs, métaux et plastiques conducteurs.

Il est équipé de sondes sphériques ou à tête plate en alliage de cuivre plaqué or qui n'endommagent pas le film, comme le type ST2558B-F01, qui peut mesurer la résistivité/résistance carrée des films conducteurs tels que les feuilles métalliques et le papier carbone, ainsi que des films de revêtement conducteurs sur des substrats tels que la céramique, le verre ou les films PE, tels que le revêtement métallique, le revêtement par pulvérisation, le film ITO, le film convolutif capacitif et autres. matériaux.

Lorsqu'il est équipé de sondes dédiées recouvertes d'une feuille, telles que le modèle ST2558B-F02, il peut également tester la résistivité/résistance carrée des matériaux revêtus d'une feuille sur les feuilles d'électrodes de batterie au lithium, etc.

En passant au dispositif de test à quatre bornes, la résistance du corps de la résistance peut également être mesurée.

2.5 Options de banc d'essai : selon les exigences des différentes propriétés des matériaux, plusieurs types de bancs d'essai sont disponibles pour la sélection. Pour plus de détails, veuillez vous référer au « Tableau de référence pour la sélection du modèle, des spécifications et des fonctionnalités du banc d'essai à quatre sondes ».

Pour tester des matériaux à couches solides ou minces par la méthode à quatre sondes, le banc d'essai de type SZT-A, de type SZT-B (électrique), de type SZT-C (pression constante rapide) ou de type SZT-F (cellule solaire) peut être sélectionné.

Pour tester les matériaux en tiges fines par la méthode à deux sondes, le banc d'essai de type SZT-K est sélectionné en option.

Le banc d'essai de type SZT-G est sélectionné pour l'essai parallèle à quatre couteaux des matériaux en caoutchouc et en plastique.

2.6 Champ d'application : cet instrument convient pour tester la conductivité électrique des conducteurs, des semi-conducteurs et des matériaux de type semi-conducteur par la méthode à quatre sondes dans les usines de matériaux semi-conducteurs, les usines d'appareils, les instituts de recherche et les universités.

III. Paramètres techniques de base

1. Plage de mesure, résolution (entre parenthèses, elle peut être étendue d'un ordre de grandeur)

Résistance électrique : 10,0×10-6 à 200,0×103 Ω, résolution : 1,0×10-6 à 0,1×103Ω

(1,0×10 ^-6 à 20,00×10 ³ Ω, résolution 0,1×10 ^-6 à 0,01×10 ³ Ω)

Résistivité : 10,0×10 ^-6 à 200,0×10 ³ Ω-cm Résolution : 1,0×10 ^-6 à 0,1×10 ³ Ω-cm

(Résolution de 1,0×10 ^-6 à 20,00×10 ³ Ω-cm 0,1×10 ^-6 à 0,01×10 ³ Ω-cm)

Résistance de bloc : 50,0×10 ^-6 à 900,0×10 ³ Ω/□ Résolution : 5,0×10 ^-6 à 0,5×10 ³ Ω/□

(5,0×10 ^-6 à 100,0×10 ³ Ω/□ Résolution 0,5×10 ^-6 à 0,1×10 ³ Ω/□)

2. Dimensions du matériau (déterminées par le banc d'essai et la méthode d'essai en option)

Diamètre droit : le mode de test direct du banc de test carré SZT-B/C/F est de 180 mm × 180 mm, et le mode portable n'est pas limité.

Longueur (hauteur) : Le mode de test direct sur le banc de test est H≤100 mm, et le mode portable n'est pas limité.

Orientation de la mesure : les directions axiale et radiale sont acceptables

3.3 Division de plage et niveaux d'erreur